DIN 50430-1980 无机半导体材料的检验.用双探针直流法测定硅和锗的棒状单晶体的比电阻
时间:2024-05-21 12:27:56 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9417
【英文标准名称】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;measurementoftheelectricalresistivityofsiliconorgermaniumsinglecrystalsinbarsbymeansofthetwo-point-probedirectcurrentmethod
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.用双探针直流法测定硅和锗的棒状单晶体的比电阻
【标准号】:DIN50430-1980
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1980-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;锗;半导体;硅;试验;测量;直流电流;输入阻抗;面积
【英文主题词】:area;germanium;testing;semiconductors;inputimpedance;measurement;definitions;directcurrent;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Methodforultrasonictestingofferriticsteelcastingsincludingqualitylevels
【原文标准名称】:铁素体铸钢件质量分等规定和超声波检验方法
【标准号】:BS6208-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-04-30
【实施或试行日期】:1990-04-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:无损检验;试验条件;声学检验;钢;厚度;尺寸;铁素体钢;超声检验;试验设备;铸件;缺陷与故障;等级(质量)
【英文主题词】:defects;dimensions;steels;sonictesting;ferriticsteels;ultrasonictesting;thickness;non-destructivetesting;grades(quality);testingconditions;castings;testequipment
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26;J31
【国际标准分类号】:77_140_80;77_040_20
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Plastics.Determinationoftemperatureofdeflectionunderload.Part1:generaltestmethod.
【原文标准名称】:塑料制品.负荷下偏差温度的测定.第1部分:一般试验方法
【标准号】:NFT51-005-1-1996
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1996-03-01
【实施或试行日期】:1996-03-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:83_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他